Prof Dr rer nat Stefan Trapp Umwelt Campus Birkenfeld Trier (PDF)

Prof. Dr. rer. nat. Stefan Trapp
Umwelt-Campus Birkenfeld
Hochschule Trier
Fachrichtung Physik und Energietechnik
(Physikingenieurwesen, Physics Engieering)
Neue Materialien, Beschichtungstechnologie
Mikroskopie und Mikrobereichsanalyse für die
praktische Anwendung
Anwendungsspezifische Schulung
für Personen, die in Unternehmen mit
Fertigung, Qualitätssicherung und
Produktentwicklung befasst sind.
Ziel:
Den Blick für das technisch Machbare in Bezug auf moderne Verfahren der Mikroskopie, der
Bildverarbeitung sowie der chemischen Mikrobereichsanalyse zu schärfen.
Die Weiterbildung erfolgt in kleinen Gruppen und kann sehr anwendungsspezifisch durchgeführt
werden.
Tel.: 06782/ 17-15 16
E-Mail: s.trapp@umwelt-campus.de
Veranstaltungsort:
Umwelt-Campus Birkenfeld
Campusallee, Gebäude 9916, Raum 105
D-55768 Hoppstädten-Weiersbach

Bestimmung der mittleren Korngröße im Digital- ( Licht)-Mikroskop
Stahl, 1.4301, Schleifen, Polieren, Ätzen; Auszählen der Körner.
Bestimmung der Kennzahl nach ASTM.

Trägerstoff für ein Enzym, organische Substanz: Trägermaterial und Wirkstoff, ummantelt.
REM Jeol 6610
SE

Geschliffene und polierte Oberfläche; Schaden durch Grobkorn.

Stahl 1.4301
REM Jeol 6610
Sekundärelektronendetektor

Qualitative chemische Analyse mittels EDX. Im Rissgrund kann Aluminium und Sauerstoff
nachgewiesen werden. Der Riss ist wahrscheinlich durch ein grobes Korundkorn entstanden.
REM Jeol 6610
Energiedispersive Röntgenstrahlanalyse

Kugelfallversuch auf eine galvanische Kombinationsschicht. Der Eindruck der Kugel ist deutlich
erkennbar.

Kugelfallversuch Zielpräparation:
Grundmaterial Stahl
Verbindungsschicht
Sperrschicht
Reale Oberfläche, Funktionsschicht (Riss deutlich erkennbar, dieser endet an der Verbindungsschicht
– kein Durchstoßen zum Grundmaterial)
Querschliff durch den Kugeleindruck; Schleifen, Polieren konventionell, Präparation durch
Ionenbeschuss – damit werden kleinste Risse in der Oberfläche sichtbar. Ansicht: Probe 45° gekippt
Rasterelektronenmikroskop Jeol 6610 Rückstreuelektronen